大橘小说 > 虐心甜宠 > 重返高三,满仓抄底狂赚百亿 > 第355章 晨曦(上)
    春节过去以后,清嘉没有等来太久。


    二月二十二日凌晨。


    第一批完成制造的晶圆正式下线。


    装有晶圆的恒温防震箱由专车送出厂区,两名清嘉工程师和国家大基金派出的保密人员全程押运。


    车辆抵达京都时,清嘉实验楼已经封闭了整整六个小时。


    所有参与晶圆筛选、切割和封装的人员重新核验身份,手机、手表和个人电脑全部留在外部保管柜。


    陈默当天从江城返回京都。


    他推开地下重度防静电区的大门时,吴华强正躬身立在自动晶圆探针台前,身后黑压压围了一圈工艺与测试专家。


    高倍光学扫描屏上,密密麻麻的未切割裸片如星阵般逐一亮起。


    绿色代表通过。


    红色代表失效。


    最初十几颗芯粒点亮的过程中,空旷的净化间内甚至听不到呼吸声。


    直到整张十二英寸晶圆完成第一轮晶圆级初测,机械臂缓缓回位,吴华强才猛地摘下防尘护目镜,指节发白地按揉着眉心。


    “计算芯粒良率,百分之八十八点七。”


    “控制芯粒,百分之九十三点二。”


    “缓存与存算一体芯粒,全线破九。”


    这些数字放在成熟工艺上谈不上惊人。


    但对于一支首次跑通全套异构版图、首次与本土代工厂进行底层工艺磨合的全新团队而言,这几乎堪称奇迹。


    更重要的是,将庞大单芯片拆解为微型芯粒的异构方案,在这一刻展现出无可比拟的容错优势。


    局部的晶圆缺陷只会吞噬对应的一两颗微小芯粒,而无需将整块高成本大芯片全数报废。


    顾绍庭站在人群后方,眼神冷峻,没有露出一丝笑意。


    “晶圆能够通过测试,只能证明每块积木单独可用。”


    老人看着探针台上的晶圆。


    “能不能把它们真正拼起来,还要看封装。”


    经过两天筛选,清嘉从首批晶圆中挑出四组已知良好芯粒。


    计算、控制、缓存和存储分别完成切割。


    它们被送入提前预留的高密度封装线,按照最终图纸放置在中介层上,再通过微凸点和高密度互联组合成完整系统。


    二月二十七日,深夜二十三点四十分。


    第一枚工程样片完成封装封测。


    银灰色封装体被固定到测试主板中央。


    所有电源、测量探头和外部接口完成复查以后,吴华强亲手按下启动按钮。


    测试台上的指示灯依次亮起。


    供电正常。


    控制芯粒启动。


    四组缓存完成识别。


    计算芯粒返回第一条状态信息。


    实验室里压抑许久的呼吸声终于松开。


    有人刚要鼓掌,屏幕右下角忽然跳出一行黄色警告。


    第三组存储通道出现校验错误。


    最初只是一次。


    随后,错误数量开始快速增加。


    第十三分钟,第三、第四组存储通道同时中断。


    第二十一分钟,调度系统失去响应。


    整块测试主板自动断电。


    刚刚出现的一点喜悦迅速消失。


    技术人员立刻更换第二枚样片。


    结果几乎完全相同。


    低负载运行正常。


    温度上升以后,外侧存储通道开始出现错误,最终导致整个系统崩溃。


    第三枚样片甚至只坚持了九分钟。


    凌晨三点。


    清嘉召开紧急故障分析会。


    时钟、供电、调度、接口和封装团队全部到场。


    有人怀疑多芯粒之间的时钟同步存在根本缺陷。


    也有人认为,中介层长距离布线在高频状态下出现串扰,现有补偿算法根本无法维持信号完整性。


    如果这两个判断中有任何一个成立,清嘉便要重新修改版图。


    第二轮流片至少再等两个月。


    更严重的结果,是陈默提出的整套异构架构需要重新论证。


    会议室里的气氛越来越沉重。


    顾绍庭始终没有表态。


    他让各组把原始数据全部投到屏幕上,一项项排除可能性。


    陈默同样没有急着开口。


    他知道这条路线能够成功,却不知道眼前的故障究竟出在哪里。


    长达一个半小时的嘈杂推论中,一直坐在长桌最末端的陈静忽然站了起来。


    “把通道编号换成物理位置。”


    正在操作电脑的工程师没有听明白。


    “什么意思?”


    “不要按照逻辑编号排列。”


    陈静走到屏幕前。


    “把每一个报错通道,标回芯粒在封装体里的真实位置。”


    工程师迅速调出封装图。


    第三组、第四组,以及第二枚样片出现问题的两个备用通道,被依次标成红色。


    所有红点都集中在中介层外缘。


    会议室逐渐安静下来。


    陈静又让人将温度曲线与错误时间重叠。


    第一批错误出现时,几枚样片的核心温度并不相同。


    封装体边缘的温差变化却几乎一致。


    “如果是时钟或者调度逻辑,错误应该跟随通道功能和工作负载变化。”


    陈静指着屏幕。


    “现在出问题的始终是外缘互联。”


    “而且每次都发生在第二轮升温以后。”


    “我怀疑封装体出现了局部翘曲。”


    封装团队负责人立刻说道:“室温扫描没有发现裂纹,平整度也在工艺标准以内。”


    “那就不要只测室温。”


    陈静看向他。


    “样片冷却以后,微凸点可能重新接触。等温度升高,材料膨胀系数不同,外缘才会被拉开。”


    “做带载热成像和动态阻抗测试。”


    “再取一枚样片进行破坏性切片。”


    封装负责人迟疑了一下。


    首批完整样片总共只有四枚。


    三枚已经用于测试。


    如果再切开一枚,清嘉手里便暂时没有完整成片。


    “切。”


    顾绍庭作出决定。


    “现在舍不得一枚样片,后面报废的就是整批晶圆。”


    失效分析区连夜启动。


    第四枚样片被逐层研磨、抛光和切片。


    上午九点四十分。


    高倍显微图像出现在屏幕上。


    中介层外侧的几排微凸点周围,存在肉眼无法识别的细小裂纹。


    裂纹在室温下仍能保持接触。


    经过升温和通电以后,接触电阻迅速增大,最终引发信号中断。


    架构没有失败。


    问题出在封装工艺。


    封装厂春节期间更换过一批底部填充材料。


    新材料的固化温度与欧洲测试样品不同,生产线却沿用了原来的升温曲线。


    一次快速升温,让中介层、基板和填充材料在冷却以后形成了额外应力。


    陈静此前建立的翘曲补偿参数没有错误。


    实际封装条件发生了变化。


    她将新的材料参数写入模型,又和封装团队重新拆分固化过程。


    快速一次升温被改成分段预固化。


    外缘增加临时支撑结构。


    压合、冷却和应力释放时间全部重新调整。


    备用封装线在当天中午开始准备。


    剩余的已知良好芯粒被紧急送往第二家封测企业。


    温知夏负责两地之间的全部协调。


    她让第二家封测企业暂停原定工程批次,为清嘉腾出一条封装窗口,又在当天完成新材料确认、保密文件补签和运输路线变更。


    原本需要一周才能完成的交接,被压缩到七十二小时以内。


    三天以后。


    两枚重新封装的工程样片回到清嘉。


    ……


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